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zeta电位-粒度分析仪简介

发布日期:2025-04-10 作者: 阅读:

Zeta 电位 - 粒度分析仪综合运用电泳法与动态光散射技术,以实现对颗粒关键特性的精准测定。在 Zeta 电位测量环节,当颗粒于液体介质中分散时,其表面会因吸附离子或发生化学反应而带电,在颗粒表面与周围液体间形成电位差,即 Zeta 电位。仪器利用电泳法,在样品两端施加稳定电场,带电颗粒便会向对应电极移动,通过高灵敏度的检测装置精确测量颗粒的电泳速度,再借助经典的电泳理论公式,将测得的速度转换为 Zeta 电位数值,从而清晰呈现颗粒表面的电荷特性。

在粒度分析方面,采用动态光散射技术。仪器发射的激光束照射到分散于液体中的颗粒时,颗粒会向四周散射光线。由于颗粒的布朗运动,散射光强度会随时间呈现无规则波动。仪器的光学系统配备了高分辨率的光探测器,能持续采集散射光强度变化数据,内置的先进算法对这些波动数据进行深度分析,依据光散射理论模型,精准计算出颗粒的粒径大小,并给出全面的粒度分布情况,从纳米级到微米级的颗粒都能精确测量。


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